Компания Radonika поставляет и внедряет сканирующие электронные микроскопы (SEM) для исследования микроструктуры, морфологии, дефектов и элементного состава материалов в промышленности, науке и контроле качества.

Увеличение: от 60×, 150×, до 300 000× / 1 000 000×

Управление платформой: ручное или моторизованное (XYZ + наклон + поворот)

Что такое SEM-микроскоп?

Сканирующий электронный микроскоп (SEM) формирует изображение поверхности с помощью электронного пучка, обеспечивая нанометровое разрешение, глубину резкости и контраст, недоступные оптическим микроскопам.

• SEM позволяет:видеть микро- и наноструктуру материалов
• анализировать дефекты, трещины, поры, включения
• исследовать покрытия, зернистость, фазовый состав
• проводить микроанализ элементов (SEM-EDS)

Ключевые преимущества SEM Radonika

🔬 Сверхвысокое увеличение — до 1 000 000×стандартные режимы: 60×, 150×, 300 000×

• расширенные конфигурации: до 1 000 000×
• наблюдение наночастиц, тонких слоёв, микротрещин

🎯 Высокое разрешение и детализация

• визуализация рельефа поверхности
• высокая глубина резкости
• чёткие изображения сложных топографий

🕹 Ручное или моторизованное управление столиком. Доступны два варианта:

🔹 Ручная платформа

— простая, надёжная, бюджетная

— подходит для рутинных задач

🔹 Моторизованная платформа (XYZ + Tilt + Rotation)

— высокая точность позиционирования

— быстрый поиск областей интереса

— автоматическое сканирование

— идеальна для серийных исследований и картирования

⚡ Быстрый переход от обзора к наномиру

• мгновенное масштабирование от десятков до сотен тысяч крат
• удобный интерфейс и навигация по образцу
• сохранение координат зон интереса

🧪 Совместимость с EDS-анализом (опция)SEM может комплектоваться энергодисперсионным анализатором (EDS) для:

• определения элементного состава
• картирования распределения элементов
• анализа включений и загрязнений
• Основные области применения SEM

🏭 Промышленность и производствоконтроль качества металлов и сплавов

• анализ разрушений и дефектов
• контроль покрытий, пайки, сварки

🔬 Научные исследования и R&Dнаноматериалы

• порошки, катализаторы, композиционные материалы
• микроэлектроника

🧱 Геология и минералогия

• структура руд
• фазовый анализ
• включения и микрокристаллы

🧪 Химия и полимеры

• морфология полимеров
• наполнители и композиты
• деградация материалов

🧫 Биология и медицина

• клеточные структуры
• поверхности биоматериалов
• тканевые исследования

Типовые задачи, которые решает SEM

• поиск микротрещин и дефектов
• анализ разрушения изделий
• исследование поверхности покрытий
• контроль качества порошков
• изучение наноструктур
• анализ загрязнений и включений
• судебная и криминалистическая экспертиза

Почему SEM от Radonika

✔ Подбор модели под вашу задачу и бюджет

✔ Ручная или моторизованная платформа — по необходимости

✔ Конфигурации до 1 000 000×

✔ Опция EDS-элементного анализа

✔ Пусконаладка, обучение, методическая поддержка

✔ Сервис, гарантия, расходные материалы

✔ Демонстрация и тестирование ваших образцов

Комплектации (пример)

Базовая:

• SEM микроскоп
• вакуумная система
• детекторы вторичных/обратно-рассеянных электронов
• ПО управления

Расширенная:

• моторизованный столик XYZ + наклон + поворот
• EDS-анализатор
• автоматическое картирование
• система напыления для проб

Подберём SEM-микроскоп под ваши задачи

Мы бесплатно:

✅ оценим ваши образцы

✅ подберём оптимальную конфигурацию

✅ рассчитаем требуемое увеличение и разрешение

✅ подготовим коммерческое предложение

✅ организуем демонстрацию